+49 8857 693 01

Oberflächenuntersuchung und Materialanalysen

SIMS Workstation, SIMS Analysatoren und Ionenkanonen mit Sekundärionen-Massenspektrometrie

 

EQS

EQS

EQS - Sekundärionen-Massenspektrometer als SIMS Analysator State-of-the-Art Anbau-SIMS-Sonde ...
IDP Massenspektrometer

IDP Massenspektrometer

IDP Massenspektrometer zur Analyse von Ionen, Neutralteilchen und Radikalen in UHV Desorptionsstudien...
MAXIM

MAXIM

Hiden MAXIM Sekundärionen-Massenspektrometer für UHV Oberflächenanalysen und SNMS. Ein St...
SIMS Workstation

SIMS Workstation

SIMS Workstation Ein Oberflächenanalysesystem für Tiefenprofile Dünner Schichten Eine ro...
TPD Workstation

TPD Workstation

TPD Workstation für Thermische Desorptionsstudien im UHV Mehrfach-Port UHV Kammer mit ...