SIMS Oberflächenanalysen

SIMS ist eine hochempfindliche Technik zur Oberflächenanalyse zur Bestimmung der Oberflächenzusammensetzung, Kontaminationsanalyse und Tiefenprofilanalyse in den obersten Schichten einer Probe.

Angewandt auf die ersten Mikrometer der Oberfläche ermöglicht das Hiden SIMS System die Tiefenprofilanalyse mit einer Tiefenauflösung von 5 Nanometern.

Die Hiden SIMS Workstation ermöglicht leistungsstarke statische und dynamische SIMS Anwendungen zur genauen Analyse der Oberflächenkomposition und Tiefenprofilierung.

Hiden’s elementare SIMS Bildgebungseinrichtung ermöglicht hochauflösende chemische Oberflächenkartierung.

Hiden Komponenten sind als Nachrüstsystem erhältlich für die nachträgliche Erweiterung bestehender Oberflächenanalysesysteme mit der SIMS Technik.

 

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