Sekundär – Ionen – Massenspektrometer

Sekundär – Ionen – Massenspektrometer
SIM und EQS 6 mm Stabsystem – 300 amu, - 510 amu, EQS1000 und MAXIM 9 mm Stabsystem -510 amu, - 1000 amu, Ionenkanonen IG20, T25, IFG200

SIMS – Hidens Sekundär – Ionen – Massenspektrometer

Es gibt Massenspektrometer für unterschiedliche Anwendungen und Ansprüche. Ein preiswerter Einstieg für einfache Routineuntersuchungen ist mit dem SIM-Analysator möglich.

Für anspruchsvolle Applikationen stehen die Analysatoren EQS (bis 500 amu, 6 mm Stabsystem) oder EQS 1000 (mit 9 mm Stabsystem, bis 1000 amu) zur Verfügung. Für höchste Performance wurde das System Maxim (9 mm Stabsystem, bis 1000 amu) entwickelt. Zum abtragen der Proben können die Ionenkanonen IG20 (Argon oder Sauerstoff), T25 Flüssigmetall – Ionenkanone und die IFG200 als Neutralteilchen – Kanone für (Argon oder Sauerstoff) eingesetzt werden.

In Kombination mit diesen Quellen wird von der mitgelieferten Software die Oberflächen – und Tiefenprofilanalyse unterstützt. Auch ein Imaging ist zusammen mit einer Farb CCD – Kamera möglich.